情報通信研究機構(NICT)は、マイクロ波の電界分布を、光信号に変換して読み取り、100Ｘ100画素(1万画素)のイメージとして表示する技術を開発した。電界の測定は従来1度に1ヵ所しか行えず、電子回路全体の電界のイメージを得るためには長時間の走査が必要とされてきた。新技術は、電界の強さにより屈折率が変化する「電気光学結晶」によりマイクロ波の電界情報を光で映し出し、光を並列に読み取る光学系を開発して、1万点の電界分布を1秒以下で撮影することを可能にした。

　この技術は光学的手法であるため被測定電磁界を乱すことなく、光本来の並列性を活用することにより、電界信号をスチルカメラのように撮影することができる。従来の手法では1万点の測定に3時間弱かかっていたが、1秒でイメージを得ることができるため、マイクロ波回路の不良箇所の診断や電波漏洩検査などに威力を発揮する。携帯電話、無線LAN、RFIDなど無線を利用する機器が増加する中で、機器からの電波の漏洩や相互干渉などを速やかに特定できる検査・診断技術として応用が期待される他、物体の組成や内容物のイメージを電磁波によって得る技術開発に発展する可能性もある。